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●中文视窗操作测量系统
●解析度0．001um， *小测量面积0．1mmΦ
●可测量合金层之厚度和组成比例
●可测量两层以上镀层之个别厚度
●藉由光谱分析可判定被测物之元素
●适用对象：1C导线架、封装业、PCB业、精密零
●件业、电镀业、电子业。
荧光X线膜厚计
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荧光X线膜厚计
详细信息 特点：
●中文视窗操作测量系统 ●解析度0．001um， *小测量面积0．1mmΦ ●可测量合金层之厚度和组成比例 ●可测量两层以上镀层之个别厚度 ●藉由光谱分析可判定被测物之元素 ●适用对象：1C导线架、封装业、PCB业、精密零 ●件业、电镀业、电子业。 |